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概倫電子參展DAC 2012獲得巨大成功
2012-06-06
中國 北京，2012年6月4-6日，概倫電子在美國San Francisco Moscone Center舉辦的第49屆設(shè)計自動化大會（Design Automation Conference，DAC 2012）上成功展示了其在晶體管級統(tǒng)計建模與電路仿真、良率分析設(shè)計等方面的解決方案，吸引了近兩百位行業(yè)專家、客戶和同行的參觀、訪問及咨詢，并為來賓舉辦了十余場產(chǎn)品介紹和演示，獲得了熱烈的反響和好評。
Process Variation及其引起的良率問題是近年來集成電路行業(yè)的一個焦點話題，并隨著工藝節(jié)點的推進而日益嚴重，由此對設(shè)計流程及建模和設(shè)計等方面提出了巨大的挑戰(zhàn)。概倫電子擁有SPICE模型技術(shù)、先進的全芯片高精度SPICE仿真引擎NanoSpice、和源自于IBM的并行統(tǒng)計算法，其NanoYield良率分析平臺首次真正集成了模型、SPICE和經(jīng)過驗證的統(tǒng)計分析算法，從而有可能為設(shè)計人員提供更高精度和更高效率的良率分析和優(yōu)化設(shè)計手段。
展會期間，概倫電子通過開放展區(qū)和演示區(qū)充分展示了其全線產(chǎn)品，包括創(chuàng)新的DFY良率分析和設(shè)計平臺NanoYield、用于存儲器設(shè)計的高良率分析技術(shù) 、全芯片級高精度SPICE仿真器NanoSpice 和業(yè)界十多年的“黃金標準”建模平臺BSIMProPlus 。概倫電子以其創(chuàng)新的解決方案得到了與會者的廣泛認可和高度贊譽，并通過參展DAC 2012成功展現(xiàn)了其作為DFY技術(shù)提供商的實力，成為本次展會的亮點。概倫電子已經(jīng)擁有眾多客戶，此次活動進一步開拓了數(shù)十家潛在的優(yōu)質(zhì)客戶，參展取得了巨大成功。
在本次展會上，概倫電子還聯(lián)合IBM舉辦了數(shù)場專題研討會，吸引了數(shù)十位半導體公司的專家，共同對65nm及以下工藝節(jié)點的存儲器設(shè)計和良率分析展開了深入的討論。與會專家一致高度評價概倫電子在DFY領(lǐng)域的創(chuàng)新解決方案，同時還表示將與概倫電子深入合作，共同探討和推動解決先進工藝下的許多共性問題，實現(xiàn)共贏。
DAC設(shè)計自動化大會是全球Electronic Design Automation (EDA) 領(lǐng)域中最負盛名的技術(shù)會議和展覽會，它為IC設(shè)計、EDA系統(tǒng)、技術(shù)網(wǎng)絡和商業(yè)環(huán)境等各領(lǐng)域提供交流與展示機會，并展示EDA行業(yè)最新的技術(shù)研究成果。DAC覆蓋了復雜芯片系統(tǒng)設(shè)計領(lǐng)域涉及的所有話題，從嵌入式系統(tǒng)設(shè)計驗證乃至物理層驗證及測試的全部應用。第49屆DAC會議匯集了全球超過兩百家頂尖IC設(shè)計供應商共同參與。
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